NanoYield是概伦电子自主研发的全集成良率导向设计平台。

基于概伦独特的统计模型技术和high-sigma统计分析算法而打造。

通过高效精准的统计算法和并行加速技术对统计电路仿真的性能进行无损精度的加速，对各种类型的电路包括存储器/数字电路/模拟电路等进行良率分析和设计优化。

(资料图)

含有友好的电路设计分析环境，通过强大的图形化界面帮助用户在较短的时间内评估良率并可根据设计目标进行电路优化。

提高芯片设计的一次成功率，优化芯片性能、提升良率从而提升产品竞争力。

产品亮点

全集成

内置SPICE引擎和高效精准的统计算法

高性能

支持快速 PVT/ 蒙特卡罗/ 高西格玛分析功能

全并行

支持单机多核/服务器集群/公有云的并行加速

硅精准

经40/28/14/7/5nm工艺节点验证

超经济

并行仿真授权模式，经济高效

易使用

友好的图形界面方便查看和处理良率分析结果

产品应用

存储器单元和阵列

良率预测和优化

模拟/数字电路

良率预测和优化

代工厂/IDM公司

SRAM良率提升

快速PVT应用于

需大量工艺角仿真电路